紫外線強度檢測儀/強度檢測儀/紫外線強度監測儀/紫外強度計/紫外線強度計/紫外線強度儀 型號:DP-ZQJ-254 紫外線強度檢測儀/強度檢測儀/紫外線強度監測儀/紫外強度計/紫外線強度計/紫外線強度儀 型號:DP-ZQJ-254產品介紹: 紫外線的應用很廣泛,如紫外線殺菌消毒,紫外線理療,紫外線熒光分析和鑒別偵破,紫外線曝光光刻等。紫外線的破壞作用在某些場合是非常危險的。如文物書畫,橡膠塑料,在長期照射下會發生老化,紫外線還會傷害眼睛,皮膚和花木等等。HA-ZQJ-254紫外線強度檢測儀能測量各種環境中的紫外線輻照劑量。
紫外線強度檢測儀/強度檢測儀/紫外線強度監測儀/紫外強度計/紫外線強度計/紫外線強度儀 型號:DP-ZQJ-254產品用途: DP-ZQJ-254型紫外線強度檢測儀可廣泛適用于測量各種場合的紫外輻射強度,對從事生物、化學、醫療、衛生、食品、偵破、考古和對測量濾色片及石英玻璃片的紫外線透過率,是燈泡和玻璃制品廠等單位的的檢測儀器。 紫外線強度檢測儀/強度檢測儀/紫外線強度監測儀/紫外強度計/紫外線強度計/紫外線強度儀 型號:DP-ZQJ-254指導: ⑴量測強度寬:0.1-30000(uwcm2); ⑵紫外線范圍:200×320nm(中心波長254nm); ⑶放大器采用集成塊測量值穩定可靠; ⑷外形尺寸:200×150×80mm,重量1公斤; ⑸電 源:1.5v1號電池2節; ⑹工作環境條件:溫度(0-20℃相對濕度≤70%),無強電電磁場干擾; ⑺示值誤差:±10%(253.7nm), 標配:主機,探頭,底座各個
正投影機光色參數快速測試儀 投影機光色參數檢測儀 型號:DP-XYI-XI 正投影機光色參數快速測試儀用于大屏幕投影機光色參數的快速測量儀器,別適用于投影機線上的自動調校。其測量對象包括屏幕光通量、屏幕的光通量不均勻性、對比度、色品坐標和色溫。 儀器預設標準A光源及D65光源文件,并可根據用戶需求,由用戶任意設定存儲標準光源。儀器可根據不同參考光源自動修正探測器的光譜參數誤差,達到屏幕的總光通量、屏幕的光通量不均勻性、色品坐標和色溫的測量。其測量精度達到際水平。 儀器軟件運行于Windows98/NT環境,具有友好的圖形界面、功能強大。采用圖形化實體數據顯示,可以行柱形圖和亮度圖切換及數據打印輸出。儀器同時具有實時通訊功能,適用于屏幕參數的在線測量及控制。 正投影機光色參數測量,9點照度測量,顏色參數測量 指標: ? 光通量測量范圍:0-8000lm(按4m2計算) ? 儀器精度:優于±4% ? 分辨率:0.05%(滿量程) ? 線性:±1% ? 工作溫度:0-50℃ ? 投影屏幕測試探測器:1-9探測器為照度探測器,5、10、11探測器為色度探測器(根據用戶要求儀器也可附帶15個探測器) ? 探測器V(λ)匹配達家照度計標準 ? 具有色溫修正軟件, 可測量不同色溫的光通量及色品坐標 ? 總光通量自動計算和屏幕光通量不均勻性計算及其相關軟件 ? 微機控制及上位機通訊。 ? 刷新頻率:3次/s ? 供電電源:220V交流電 ? 保修期:1年 ? 隨機附件:相關軟件和說明書
加重型采樣器/防靜電取樣器/黃銅加重采樣器 型號:DP-TQB 加重型采樣器又稱:加重采樣器、黃銅加重采樣器、加重取樣器。加重采樣器符合GB/T6680、GB/T4756家標準。加重采樣器采用殊工藝制成,油口有閉合裝置,適用于采取容器部、上部、中部、下部(底部樣品可用底部采樣器采集)的樣品。加重采樣器材質為黃銅,具有不漏油、美觀等點。加重采樣器規格:300ml、500ml、1000ml。 加重采樣器使用: 1.將防靜電采樣繩端牢固接地,防靜電采樣繩另端與加重采樣器牢固連接。 2.采樣前用手觸摸罐體,以消除靜電。 3.將加重采樣器以不大于1米/秒的速度下落至想采集樣品的部位,用力向上提防靜電采樣繩,油時會有氣泡昌出。待沒有氣泡時提出加重采樣器,轉移樣品,即可成樣品的采集,采樣畢后擦干加重采樣器存放。 注意:當將加重采樣器提出時應使加重采樣器盡量不要觸及金屬油罐,以避免靜電放電;整個采樣過程中保持加重采樣器、防靜電采樣繩和接地點牢固連接,以順利導除靜電。
袖珍式測振儀/測振儀 型號:DP-EMT220AN ● 工藝,具有功耗低、性能可靠、型美觀、使用攜帶為方便的點。 ● 按標制,測量值與際振動烈度標準(ISO 2372)比對可直接判斷設備運行狀態。 ● 具有低頻分檔功能,在振動測量時,便于識別設備故障類型。 ● 儀器殼體內表面做有效電磁屏蔽層,確保在復雜工業電磁環境的可靠測量。 ● 備有信號輸入功能,配接溫度傳感器,即可測量溫度。 ● 備有信號輸出功能,選配用耳機,兼具設備聽診器功能;配接示波器、振動記錄儀等,可用來監測、記錄振動信息。 ● 按振動傳感器與主機的連接方式分為體式和分體式供您選擇。 ● 適用于各類機械的振動、溫度測量。 傳 感 器:體式環形剪切型加速度傳感器 分體式電荷放大器內置剪切型加速度傳感器 測量范圍:加速度 0.1~199.9m/s2(單峰值) (5或10~1KHz;1K~15KHz) 速 度 0.01~19.99cm/s(有效值) (5或10~1KHz) 位 移 0.001~1.999mm(峰峰值) (5或10~1KHz) 溫 度 0 ℃~400 ℃ 測量精度:振 動 5%±2個字 溫 度 1%±1個字 顯示方式:三位半液晶數字顯示 保持性:測量值自動保持,延時自動關機 信號輸出:交流2V峰值(滿量程及負載大于10K歐姆) 電 源:9V疊層電池1節,可連續使用25小時 體 積:185mm×68mm×30mm 重 量:200g 型 號 | 功 能 | DP-EMT220AN | 標準型,體式,可測量加速度Hi、加速度Lo、速度、位移量 | DP-EMT220AL | 低頻型,體式,測振功能同上,Lo頻率范圍為5Hz—1kHz | DP-EMT220ANC | 測振測溫型,測振功能、性能同EMT220AN,帶測溫探頭 | DP-EMT220ALC | 測振測溫型,測振功能、性能同EMT220AL,帶測溫探頭 | DP-EMT220BN | 標準型,分體式,可測量加速度Hi、加速度Lo、速度、位移量 | DP-EMT220BL | 低頻型,分體式,測振功能同上,Lo頻率范圍為5Hz—1kHz | DP-EMT220BNC | 測振測溫型,測振功能、性能同EMT220BN,帶測溫探頭 | DP-EMT220BLC | 測振測溫型,測振功能、性能同EMT220BL,帶測溫探頭
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探針測試臺/測試臺/中測臺/點測機 型號;DP-ST-102A DP-ST-102A型探針測試臺 、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數測試及功能調試,適用于科研、新品試制及小批量的中間測試。 技 術 指 標 : 工作臺面 | 370mm*245mm | 載物臺直徑 | 4" | 光學參數 | 總放大率:50-100倍;手輪調焦范圍:60mm;升降調焦范圍:200mm; | 旋轉臺 | 粗調范圍:360°;微調范圍:±10°;Z小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;緣盤直徑:Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調節范圍:±3.25mm,分辨率±2μ; 三維探針座在工作臺面可任意位置固定,由磁性開關控制; Z多可布三維探針座6個; 探針臂伸出長度:60mm; 探針長度:40mm; | 探針 | 探針材質硬質合金,針尖曲率半徑2μm; |
| 標準配置:主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調架2個、探針臂2支、探針2支。 可選配件:三維微調架、探針臂、探針、真空泵。 |
注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的
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